BX53P

內建勃氏鏡的錐光及直射光觀察法

搭配相關組件，切換錐光（Conoscopic）及直射光（Orthoscopic）觀察非常簡單，可以觀察到清晰的後成焦面干涉圖形，勃氏鏡（Bertrand Lens）則使錐光觀察系統能穩定得獲得銳利影像。

低應力殘留物鏡

採用 EVIDENT 最新 UIS2 系列中 UPLFL-P 及 ACHN-P 的無殘留應力系列物鏡，將光學鏡片內部殘留應力減至最低，並重新設計了新的聚光鏡及偏光鏡等光學元件，提供最佳的 EF 值。

* EF 值為起偏鏡與檢偏器在平行時與正交時的亮度比。

齊全的補償器

提供了五種不同的補償器，用於測量岩石和礦物薄片中的雙折射，測量的延遲範圍從 0 到 20λ，為了更輕鬆的測量和高對比度的影像，可以使用 Berek 和 Sénarmont 補償器，改變整個視場的延遲程度。