Bruker 3D XRM

SKYSCAN 1272

SKYSCAN 1272 桌上型 3D 電腦斷層掃描儀
您獲取高解析 3D 影像的首選工具

SKYSCAN 1272 - 高解析度 3D XRM

  • 6m² 佔地面積,適合所有實驗室
  • 1600 萬畫素 CMOS X 光探測器,可提供具有卓越解析度的高對比度影像
  • 縮短 2 倍時間,更大的感測器視野和強化的 X 光靈敏度
  • 16 個位置的自動進樣器,無需人員值守的高品質分析

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主要特點

Genius模式

SKYSCAN 1272 以 Genius 模式可自動選擇參數,只需一鍵按下,即可自動優化放大率、能量、過濾、曝光時間和背景校正。

 

此外,由於能讓樣品和大尺寸 CMOS 感測器盡可能靠近光源,它能大幅增加實測的訊號強度,掃描速度比偵測器位置固定的常規系統最多可快 5 倍。

自動進樣器

SKYSCAN 1272 CMOS 可以選擇配合一個有 16 個位置的外部自動進樣器,以增加進行品質控制和常規分析時的處理速度。自動進樣器可容納不同尺寸的樣品,樣品直徑最大可達 25mm。

 

可以隨時很方便地切換樣品,不會中斷正在進行的掃描過程。系統可以自動偵測新樣品,LED 可以顯示每個掃描的狀態:準備、掃描和完成。

材料測試台

BRUKER 的材料測試台可以進行最大 4400N 的壓縮試驗和最大 440N 的拉伸試驗。

 

加熱台和冷卻台可以達到最高 +80ºC 或最低低於環境溫度低 30ºC 的溫度。透過使用加熱台和冷卻台,可在非環境條件下檢測樣品,從而評估溫度對樣品微觀結構的影響。

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