次世代平場式半複消色差物鏡

MXPLFLN

專為自動化檢測設計,長工作距離的高NA值次世代物鏡,視野數為傳統物鏡的4倍

 

次世代平場式半複消色差物鏡

  • 使用全新製造技術專為半導體自動化檢測設計
  • 工作距離 3mm,NA值 0.42um
  • 超廣波長適用範圍 350nm ~ 1000nm
  • 適用明視野、偏光、螢光及微分干涉觀察

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